XMS是一款適用于工業(yè)自動(dòng)化的在線(xiàn)式X射線(xiàn)熒光分析儀，具有快速數據采集和分析能力，能夠幫助制造商優(yōu)化工藝流程和提供產(chǎn)品質(zhì)量。

能夠快速而準確的完成元素定性/定量分析，適用于多種環(huán)境，包括合金分析、PMI材質(zhì)分析，礦石成分分析、土壤重金屬檢測、RoHS 2.0檢測，鍍層測厚、化肥和動(dòng)物飼料成分分析、鋰電池以及廢舊金屬回收等各行.....

TRACER 5g科研手持XRF光譜儀采用了一個(gè)帶有1μm石墨烯窗口的新探測器，石墨烯窗口取代了傳統的8μm鈹窗口

微區X射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

TXRF全反射X射線(xiàn)熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。

M4 TORNADO PLUS 微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀是能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀。

便攜式XRF分析儀適用于在實(shí)驗室內外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進(jìn)行現場(chǎng)檢測,但是,當需要對樣品進(jìn)行預備時(shí);當樣品為粉末,固體和液體等形態(tài),存放在容器中時(shí);當需要較長(cháng)時(shí)間的檢測.....

能夠實(shí)現嚴苛的納米水平表面測量，提供更高的重復性和分辨率，不論是性能、易用性還是價(jià)格都更具有競爭力的探針式輪廓儀

表面輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測量分析。融合了表征、可定制選項和易用性等特點(diǎn)，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。

一款可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，適用于大規格晶圓和面板制造領(lǐng)域、QC（質(zhì)量控制）/QA（質(zhì)量保證）的探針式輪廓儀系統

原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺的原子力顯微鏡

布魯克光學(xué)輪廓儀特性：業(yè)界標桿，大視場(chǎng)下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實(shí)現不同面型和織構表面的表征；硬件的優(yōu)化設計進(jìn)一步的儀器抗噪聲能力、系統靈活性和測量穩定性

原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension? Icon?分辨率的儀器性能前提下，解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶(hù)獲得數據的時(shí)間。

專(zhuān)為生物科學(xué)研究打造的具有更高性能與更高靈活性的生物型原子力顯微鏡NanoWizard? 4 XP BioScience

FSM128系列設備，裝備有光學(xué)掃描系統。

FSM 500TC 200mm 高溫應力測試系統可以幫助研發(fā)和工藝工程師評估薄膜的熱力學(xué)性能和穩定性特性

提供科研開(kāi)發(fā)工作所需的各種X射線(xiàn)測試解決方案

JV-QC3 高分辨率X射線(xiàn)衍射儀是布魯克半導體部門(mén)新推出的專(zhuān)為化合物半導體產(chǎn)業(yè)所設計的半導體生產(chǎn)質(zhì)量控制設備。

硅片表面形貌測量,材料表面形貌分析

FSM413回波探頭傳感器使用紅外（IR）干涉測量技術(shù)。

PV200為光伏系統提供了一個(gè)測試及診斷解決方案

CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續復位模式運行。

布魯克AFM探針具有多種款式和型號，能夠滿(mǎn)足多種應用領(lǐng)域中的原子力顯微鏡（AFM）解決方案。

涂層測厚儀應用范圍廣泛：它們是檢查進(jìn)貨部門(mén)所交付材料的理想工具。

的測量?jì)x器: 彩屏, PC 連接，易操作, 以及適合PHYNIX探頭。

用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量

承接成分分析、大面積元素分析成像、 材料表面形貌分析等檢測服務(wù)