行業(yè)動態(tài)
網(wǎng)站當(dāng)前位置:網(wǎng)站首頁 > 行業(yè)動態(tài)- EL電致發(fā)光測試在光伏組件檢測中的應(yīng)用
電致發(fā)光(EL)測試是檢測光伏組件質(zhì)量的有效方法,能夠發(fā)現(xiàn)并準確定位光伏組件存在的潛在問題。而無人機EL測試作為一項新興技術(shù),目前尚無明確的測試規(guī)范,且受到多種因素的影響,導(dǎo)致測試誤差相對較大。影響EL圖像質(zhì)量的因素主要包括電注入條件、相機參數(shù)以及無人機平臺的性能。此外,在低電流注入條件下,正常組件也可能出現(xiàn)EL明暗片現(xiàn)象,因此在進行無人機EL測試時,需要設(shè)定合理的EL電流注入條件,以避免因測試條件不當(dāng)而導(dǎo)致的誤判。
1.EL測試技術(shù)背景
1.1 EL測試技術(shù)的發(fā)展歷程
電致發(fā)光(Electroluminescence,簡稱EL)現(xiàn)象的歷史可追溯到1907年,當(dāng)時英國科學(xué)家H.J. Round在研究碳化硅二極管時首次觀察到這一現(xiàn)象。然而,直到1936年,巴黎大學(xué)的Georges Destriau才通過實驗揭示了摻入熒光粉ZnS的蓖麻油在電場作用下的發(fā)光原理,這一發(fā)現(xiàn)深化了人們對電致發(fā)光機制的理解,并為EL技術(shù)的發(fā)展奠定了理論基礎(chǔ)。
盡管電致發(fā)光技術(shù)的早期研究并未直接針對光伏行業(yè),但其核心機制——電場作用下材料內(nèi)部電子能級躍遷并伴隨光子發(fā)射,與光伏效應(yīng)中的光電轉(zhuǎn)換過程存在相似性。這為EL技術(shù)在光伏領(lǐng)域的應(yīng)用提供了可能。
在光伏行業(yè)中,EL測試技術(shù)最初被用于光伏硅片的缺陷檢測。檢測人員通過施加正向偏壓,觀察硅片在電場激發(fā)下的自發(fā)光情況,從而能夠精確發(fā)現(xiàn)并定位硅片中的隱裂、擴散不均等潛在缺陷。這種非接觸、無損的檢測方式極大地提高了光伏硅片的質(zhì)量控制水平。
隨著光伏產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,EL測試技術(shù)在光伏行業(yè)中的應(yīng)用日益廣泛。從原材料質(zhì)檢到光伏組件成品出廠,再到電站運營維護,EL測試技術(shù)都發(fā)揮著重要作用。它已成為提升光伏產(chǎn)品質(zhì)量、確保電站長期安全穩(wěn)定運行的關(guān)鍵技術(shù),為光伏產(chǎn)業(yè)的健康可持續(xù)發(fā)展提供了有力支撐。
1.2EL測試技術(shù)的優(yōu)勢
(1)高效的質(zhì)量控制:能檢測出微裂紋、隱裂、熱斑等影響光伏電池、組件性能和壽命的缺陷。
(2)非破壞性檢測:EL技術(shù)不會對光伏電池、組件造成損害,可在生產(chǎn)過程中多次使用。
(3)提高生產(chǎn)效率:EL技術(shù)能快速、準確地檢測出光伏電池、組件的缺陷,減少人工檢測時間和成本。
(4)優(yōu)化設(shè)計:通過EL技術(shù),可以更好地理解光伏電池、組件的性能,優(yōu)化設(shè)計。
行業(yè)內(nèi)關(guān)于光伏電池EL測試有明確的測試標準,包括T/CPIA0020-2020《晶體硅光伏電池電致發(fā)光測試方法》、T/CPIA0009-2019《電致發(fā)光成像測試晶體硅光伏組件缺陷的方法》以及IEC TS 60904-13《光伏組件電致發(fā)光》 。這些標準詳細規(guī)定了EL測試的操作流程、測試條件和技術(shù)規(guī)范。用戶只需按照這些技術(shù)標準對光伏組件進行EL測試,即可及時發(fā)現(xiàn)組件中的潛在問題和缺陷,從而確保光伏組件在實際運行中的穩(wěn)定性和效率。
2.EL測試技術(shù)介紹
2.1測試原理
EL測試即太陽能電池電致發(fā)光檢測,其原理是:晶硅電池PN結(jié)中存在由N區(qū)指向P區(qū)的內(nèi)建電場,平衡狀態(tài)下載流子的擴散電流和漂移電流大小相等方向相反相互抵消,PN結(jié)內(nèi)部電流為零,其能帶圖如圖1(a)所示。當(dāng)給電池加載正向偏壓V時,外加電壓會削弱PN結(jié)中內(nèi)建電場的強度,勢壘高度由P-N結(jié)平衡狀態(tài)下的qVD下降到q(VD-V),其能帶圖如圖1(b)所示。
圖1.(a)平衡狀態(tài)下PN 結(jié)能帶;(b)正向偏壓下PN結(jié)能帶
正向偏壓打破了載流子擴散運動和漂移運動的原有平衡,形成了凈擴散電流,促使電子和空穴分別向P區(qū)和N區(qū)擴散。這些載流子在通過PN結(jié)時,因復(fù)合消失的概率很小,它們會繼續(xù)擴散并在相遇時發(fā)生輻射復(fù)合,釋放光子,即電致發(fā)光。晶硅電池的EL光譜峰值約1150nm,通過近紅外CCD相機捕捉這些光譜,即可得到電池的EL圖像。
圖2. 晶硅電池電致發(fā)光光譜
2.2 EL測試系統(tǒng)介紹
EL測試系統(tǒng)基于晶體硅的電致發(fā)光原理,通過向電池施加正向偏壓注入非平衡載流子,利用高分辨率CCD相機捕捉組件在近紅外光下的圖像,從而檢測和判定組件的缺陷。該系統(tǒng)主要由恒流源、EL成像相機、暗室環(huán)境及圖像處理系統(tǒng)構(gòu)成。恒流源負責(zé)提供穩(wěn)定且可控的電流,激發(fā)光伏電池發(fā)光;EL相機負責(zé)捕捉電池在電流激勵下發(fā)出的紅外或近紅外光;為避免外界光源干擾,測試需在暗室環(huán)境中進行;圖像處理系統(tǒng)則對采集的圖像進行預(yù)處理和分析,以識別和定位光伏組件中的缺陷。典型EL測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)如圖3所示。
圖3.典型EL測試系統(tǒng)
EL測試技術(shù)根據(jù)應(yīng)用環(huán)境分為室內(nèi)和戶外兩種。室內(nèi)EL測試通常在實驗室進行,如圖4(a)所示,該環(huán)境確保了穩(wěn)定的溫度、濕度和光照條件(符合行業(yè)標準),有助于分析光伏電池和組件的內(nèi)部缺陷,如斷柵、隱裂和同心圓等。室內(nèi)測試主要用于產(chǎn)品研發(fā)驗證、生產(chǎn)過程質(zhì)量控制、出廠前的全面檢測,以及故障分析與診斷,從而確保產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。
戶外EL測試技術(shù)又分為便攜式EL測試和無人機EL測試。與實驗室EL測試相比,戶外EL測試引入的變量更多,其無法達到與實驗室相同的EL圖像質(zhì)量。
便攜式EL測試技術(shù)主要用于戶外光伏組件的缺陷分析,能有效檢測出斷柵、隱裂、碎片等各類明顯缺陷。但由于相機固定在支架上,每次只能測試單塊組件,需要頻繁移動支架,因此工作效率低,不適合大規(guī)模光伏電站的快速檢測。
無人機EL測試技術(shù)是近幾年開發(fā)并逐漸應(yīng)用的新技術(shù),該技術(shù)通過將EL相機搭載在無人機平臺上,從而可以大幅提升光伏電站的檢測效率。然而,無人機EL測試技術(shù)的成像質(zhì)量會受到無人機平臺穩(wěn)定性及外部環(huán)境(如天氣、光照、風(fēng)速等)的影響,進而可能導(dǎo)致圖像清晰度下降和測試準確性降低。鑒于影響無人機EL成像質(zhì)量的因素較為復(fù)雜,且光伏行業(yè)內(nèi)尚未針對無人機EL測試技術(shù)制定明確的測試規(guī)范。所以測試人員在進行戶外無人機EL測試時,需要具備一定的光伏理論知識、熟練的無人機操作技能,以及對影響因素的深入理解。因此,戶外無人機EL測試結(jié)果易受主觀因素和誤差的影響,故不宜將其單獨作為判斷戶外光伏組件性能穩(wěn)定性的決定性方法。
圖4.(a)室內(nèi)EL測試系統(tǒng);(b)便攜式EL測試系統(tǒng);(c)無人機EL測試系統(tǒng)
3.影響EL圖像質(zhì)量的因素分析
3.1電注入條件對EL圖像的影響
根據(jù)晶硅電池的電致發(fā)光理論,EL亮度與少子壽命和電注入條件成正相關(guān)。電注入條件主要分為電壓注入和電流注入。
(1)電壓注入:正向偏壓Vf與EL光強正相關(guān),正向偏壓越大,EL光強越強,如公式(1)所示,其中IL是EL光強,A是常數(shù),q是電荷常數(shù),Vf是正向偏壓,k是玻爾茲曼常數(shù),T是環(huán)境溫度:
圖5.正向偏壓Vf與EL光強的關(guān)系
(2)電流注入:注入電流Jf與EL光強正相關(guān),注入電流越大,EL光強越強,如公式(2)所示,其中IL是EL光強,
是常數(shù),n是電池二極管的理想因子,Jf是注入電流。
圖6.注入電流Jf與EL光強的關(guān)系
根據(jù)EL發(fā)光原理,當(dāng)給電池或組件施加正向偏壓時,會產(chǎn)生對應(yīng)的正向電流,進而激發(fā)EL現(xiàn)象。雖然理論上使用電壓注入與使用電流注入都能激發(fā)EL現(xiàn)象。但在實際操作中,由于不同電池技術(shù)、不同版型組件的工作電壓存在一定差異,這給EL批量測試帶來了很大的困難。因此,相較于電壓注入方式,電流注入方式更易于實現(xiàn)精確控制與批量測量,已被光伏行業(yè)廣泛接受并納入EL測試標準。
3.2 EL成像相機參數(shù)對EL圖像的影響
EL成像相機在光伏組件EL 測試中,通過捕捉光信號并將其轉(zhuǎn)換為電荷,再經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換生成數(shù)字圖像,從而實現(xiàn)對電池和組件EL圖像的高靈敏度捕捉。而影響相機成像效果的主要因素有曝光時間、光圈、ISO。
曝光時間,也稱快門速度,是指相機的快門打開允許光線進入的時間長度。曝光時間越長,進入相機的光線越多,EL圖像就越亮。反之,曝光時間越短,進入相機的光線越少,EL圖像就越暗。但是,曝光時間過長會導(dǎo)致圖像過曝,細節(jié)喪失;曝光時間過短則可能導(dǎo)致圖像欠曝,細節(jié)無法清晰顯示。
圖7.(a)相機拍攝界面;(b)EL圖像亮度隨曝光時間的變化關(guān)系
光圈是表示鏡頭中孔徑大小的一個比值,是相機鏡頭中用來控制光線進入量的裝置。其大小由f值表示,f值越小,光圈越大,進入的光線越多,EL圖像就會越亮。反之,f值越大,光圈越小,進入的光線越少,EL圖像就會越暗。光圈的大小還會影響到圖像的景深,大光圈可以得到淺景深,使得主體突出,背景虛化;小光圈則可以得到深景深,使得前景和背景都能清晰顯示。
圖8.(a)相機光圈孔徑大小示例;(b)EL圖像亮度隨光圈孔徑大小的變化關(guān)系
ISO表示相機感光度,ISO值越高,相機對光線的敏感度越高,圖像會越亮。反之,ISO值越低,相機對光線的敏感度越低,圖像會越暗。但是,ISO值過高會導(dǎo)致圖像噪點增多,影響圖像質(zhì)量;ISO值過低則可能導(dǎo)致圖像欠曝,細節(jié)無法清晰顯示。
圖9.(a)相機拍攝界面;(b)EL圖像亮度隨ISO的變化關(guān)系
上述三者相互作用,共同影響成像效果。在實際使用中,需要根據(jù)拍攝環(huán)境和對象調(diào)整這三個參數(shù)以獲得最佳效果。
素材來源:光伏頭條
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