<fieldset id="aouum"></fieldset>
更新時(shí)間：2020-08-12
產(chǎn)品品牌：Bruker
產(chǎn)品型號：S4 TSTAR
S4 TStar — TXRF全反射X射線(xiàn)熒光光譜儀
數十年來(lái)，X 射線(xiàn)熒光（XRF）光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析，檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用范圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。
優(yōu)異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的工具，可以分析不同反射載體上的多種類(lèi)型的樣品。
ICP 只能分析完全溶解的液體樣品。
圖一：30 毫米石英片：對液體、固體和懸浮液進(jìn)行元素分析
圖二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究
圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學(xué)樣品，直接分析細胞培養物、涂片和切片
圖四：矩形載體：尺寸小于54 毫米，用于膜片、濾片、納米顆粒層
定制的反射介質(zhì)
行業(yè)應用：
· 藥品
檢測活性藥物成分中的催化元素：液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm
· 食品
糧農組織和世衛組織的食品標準：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。
· 環(huán)境監測
環(huán)境監測：地表水，廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
電話(huà)：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室
